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賽默飛實(shí)驗(yàn)室設(shè)備簡要描述:賽默飛Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Talos F200X 是學(xué)術(shù)、政府和工業(yè) 等 領(lǐng)域進(jìn)行高級(jí)研究與分析的理想選擇。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:掃描電鏡透射電鏡進(jìn)口電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺(tái)適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設(shè)計(jì),只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手,大大減少了培訓(xùn)的工作量及成本。即便是新手用戶,也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:賽默飛Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Talos F200X 是學(xué)術(shù)、政府和工業(yè) 等 領(lǐng)域進(jìn)行高級(jí)研究與分析的理想選擇。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:雙束電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對(duì)新維度的探索?,F(xiàn)如今,高分辨率掃描電子顯微鏡在MultiSEM出色的圖像采集速度推動(dòng)下,您終于能夠以納米級(jí)的圖像分辨率對(duì)大型樣品進(jìn)行高通量快速成像。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺(tái)適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設(shè)計(jì),只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手,大大減少了培訓(xùn)的工作量及成本。即便是新手用戶,也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:蔡司雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對(duì)新維度的探索?,F(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動(dòng)下,您終于能夠以納米級(jí)的圖像分辨率對(duì)大型樣品進(jìn)行高通量快速成像。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM6具有出色的探測(cè)效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM5將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起, 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué), 材料科學(xué), 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
更新時(shí)間:2024-10-10簡要描述:卡爾蔡司電子顯微鏡SEM,將高級(jí)的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
更新時(shí)間:2024-10-1018210898984
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