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賽默飛實驗室設備簡要描述:賽默飛Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Talos F200X 是學術、政府和工業(yè) 等 領域進行高級研究與分析的理想選擇。
更新時間:2024-10-10簡要描述:掃描電鏡透射電鏡進口電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設計,只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手,大大減少了培訓的工作量及成本。即便是新手用戶,也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。
更新時間:2024-10-10簡要描述:賽默飛Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Talos F200X 是學術、政府和工業(yè) 等 領域進行高級研究與分析的理想選擇。
更新時間:2024-10-10簡要描述:雙束電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索。現(xiàn)如今,高分辨率掃描電子顯微鏡在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分辨率對大型樣品進行高通量快速成像。
更新時間:2024-10-10簡要描述:掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設計,只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手,大大減少了培訓的工作量及成本。即便是新手用戶,也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。
更新時間:2024-10-10簡要描述:蔡司雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索?,F(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分辨率對大型樣品進行高通量快速成像。
更新時間:2024-10-10簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM6具有出色的探測效率,能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性,為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。
更新時間:2024-10-10簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM5將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學, 材料科學, 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
更新時間:2024-10-10簡要描述:卡爾蔡司電子顯微鏡SEM,將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。
更新時間:2024-10-1018210898984
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